FT-3120B半自动四探针测试仪
功能描述：Functional description
四点探针标准测试方法，采用步进系统自动控制探头与样品接触，减少人为因素对测试结果的影响；参照A.S.T.M 标准；测量方块电阻、电阻率、电导率数据、PC软件采集和数据处理实现自动点测模式或手动点测模式，同一位置的重复测试或多点的面电阻测量，报表输出数据统计分析；提供标准校准电阻件；自动正/负电流输出，自动正/负电压测量
适用范围Scope of application
晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等；半导体材料分析，铁电材料，纳米材料，太阳能电池，LCD，OLED，触摸屏等.
FT-3120B半自动四探针测试仪
参数资料technical data
规格型号 | FT-3120B |
1.电阻 | 10^-5～2×10^5Ω |
2.方块电阻 | 10^-5～2×10^5Ω/□ |
3.电阻率 | 10^-6～2×10^6Ω-cm |
4.测试电流 | 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
5.电流精度 | ±0.1% |
6.电阻精度 | ≤0.3% |
7.PC软件操作 | PC软件界面：电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、数据管理分析，大/小值，均值，方差，变异系数，样品编号，测试点数统计报表生成等 |
8.探针范围选购： | 探针压力为100-550g；依据样品接触需要调节 |
9.探针 | 针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3% 圆头铜镀金、钨钢材质，探针间距1mm；2mm；3mm选配，其他规格可定制 |
10.可测晶片 尺寸选购 | 晶圆尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）； 方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm |
11.分析模式 | 自动或手动单点模式 |
12.加压方式 | 测量重复性：重复性≤3% |
13.防护功能 | 具有限位量程和压力保护 |
14.测试环境 | 实验室环境 |
15.电源 | 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W |
16.选购项目 | 电脑和打印机 |
冀公网安备13010402002621